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Caracterización IV, CV y pulsados.


Modelo: Keithley 4200-SCS.
Sistema de caracterización de semiconductores y nanodispositivos.

Constituye la solución mas efectiva en la actualidad para caracterizar eléctricamente en aplicaciones diversas como:

  • Desarrollo de tecnologías sobre semiconductores.
  • Integración de procesado de semiconductores.
  • Inspección de entrada.
  • Análisis de fallos.
  • Test de fiabilidad y vida útil.
  • Investigación en nanotecnología.
  • Trampas de carga para dieléctricos de K altos y bajo y test isotérmicos pulsantes.
  • LEDs orgánicos. Medidas de efecto Hall y Van der Pauw.
  • Modelado de dispositivos semiconductores.
  • Caracterización de C.I. de RF y Transistores MOSFET y BJT de potencia.

Características mas destacadas:

  • Interface interactivo gráfico en Windows XP muy fácil de usar permitiendo cambiar parámetros en línea. Incluso usuarios ocasionales pueden obtener resultados desde el comienzo.
  • Permite visualizar múltiples gráficas en tiempo real, exportar datos en formato MS Excel, formular y automatizar tareas.
  • Configurable desde 2 a 8 SMUS con convertidores A/D independientes que trabajan en paralelo permitiendo mayor rapidez.
  • Resolución en corriente de 0.1fA y 13 rangos hasta ±1 A.
  • Resolución en V: 1 μV y 4 rangos hasta ±200V.
Para más información, ver las guías de selección para caracterización y/o medida:
Nano IV.
Nano pulsos IV.
Nano hilos.
Enlaces a otra páginas:
Mesas de puntas para prueba de semiconductores.
Células solares.
Fuentes de alta tensión para semiconductores.


La caracterización I/V ultrarrápida con excitación y medida es una técnica cada vez más relevante en multitud de tecnologías incluyendo componentes semiconductores, dispositivos de media potencia, memorias no volátiles, MEMS, nanodispositivos, células solares y dispositivos CMOS. Permite estudiar o eliminar efectos de auto calentamiento o minimizar derivas de corriente debidos a ”trampas” de cargas.

Las medidas I/V en transitorios permiten capturar corrientes ultrarrápidas o formas de onda de voltaje en el dominio del tiempo o estudiar circuitos dinámicos. Pueden utilizarse fuentes pulsadas para para estresar dispositivos con señales alternas en test de fiabilidad o en dispositivos multinivel programando ciclos de escritura y borrado.

Modelo 4125 PMU.
Nueva opción de caracterización pulsada I/V, ultrarrápida para analizador Keithley 4200.

Cada módulo 4225-PMU proporciona dos canales independientes de generación de de voltaje de alta velocidad y dos canales de medida que simultáneamente pueden medir corriente y voltaje. Cada canal puede medir V e I simultáneamente con convertidores A/D de 14 bits en paralelo y con una memoria capaz de registrar 1 millon de lecturas a una velocidad de 5 nS por muestra. ¡ 200M muestras / segundo de baja corriente!.

Cada canal puede generar pulsos desde 60 nS con tiempos de subida de solo 20 nS. También puede generar formas de onda arbitrarias.

Gran rango dinámico.

Generando voltaje:

Puede generar pulsos de hasta ± 40 V y 800mA programados con una resolución de 1 milivoltio. Permite trabajar tanto con las nuevas tecnologías emergentes de bajo voltaje como con dispositivos de alto voltaje como LDMOS, FLASH multi bit, GaN, GaAs.

Midiendo corriente:

Incluye fondos de escala desde ±10 µA hasta 800 mA con resolución mejor que 12 nA o 200pA con el amplificador remoto 4225 RPM (real, sin promediado).

Aplicaciones.

En adición a la caracterización I/V y C/V disponible en el Keithley 4200-SCS. El nuevo módulo abarca numerosas aplicaciones:

  • Test I/V pulsado de dispositivos.
  • Caracterización de dispositivos CMOS.
    • Bombeo de cargas.
    • Efectos de auto calentamiento.
    • Trampas de cargas.
    • Caracterización, modelado y monitorización de NBTI Y PBTI.
  • Test de memorias no volátiles.
    • Memorias flash
    • Memorias PRAM o PCRAM.
  • Componentes y materiales semiconductores.
    • Diodos laser.
    • Medidas de impedancia térmica.
  • Nanotecnología y MEMS.
  • Células solares.

Caracterización I /V ultrarrápida, abarca tres tipos de Test.

  1. Medidas I/V pulsadas . Una fuente pulsada sincronizada con las medidas de I e V permite obtener resultados equivalentes a medidas en continua.
  2. Transitorios I/V. Captura de forma de onda de V e I para estudiar variación en el tiempo de diversos parámetros.
  3. Fuente pulsada. Puede involucrar pulsos predefinidos usando funciones arbitrarias con segmentos de diferentes tensiones y duraciones . El módulo 4225-PMU puede medir voltajes y corrientes en alterna y en continua mientras genera las formas de onda.

Cada sistema 4200- SCS puede incorporar hasta 4 módulos 4200-SCS UPM, en definitiva hasta 8 canales independientes de generación y medida para cubrir las aplicaciones más exigentes.
Amplificador Remoto 4225-RPM.
Una opción que puede colocarse en uno o los dos canales de cada 4225-RPM . Además de aumentar la sensibilidad añadiendo 6 rangos de corriente con una sensibilidad hasta 200 pA constituye también un elemento de conmutación permitiendo aplicar medidas I/V de SMUS, medidas CV/ del módulo 4210-CVU y medidas pulsadas / ultrarrápidas al dispositivo bajo test sin necesidad de conectar / desconectar cables.
Módulos 4225-RPM conectados a 4225-PMU.
Módulo generador de pulsos dual 4220.
El 4220 es un generador de pulsos de dos canales con la misma funcionalidad generando que el 4225-UPM pero sin medidores de V e I. Puede usarse por separado on conjunción con 4225UPM en aplicaciones multicanal.

Instrumentos de Medida, S.L. -Disponemos de una amplia gama de instrumentación y soluciones para sus necesidades de medida.