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Ver sistemas
caracterización de semiconductores y nanodispositivos.
Ver células solares.
Mesas de puntas para evaluación de las características de circuitos integrados.
Sistemas de pruebas y caracterización
eléctrica con mecanismos de amarre de obleas "wafers" e integrados,
juegos de puntas para contactos eléctricos, controladores X-Y para micro
posicionamiento - manipulación, cámaras de temperatura, microscopios ópticos.
etc.
Determinación de las características
eléctricas de obleas recién fabricadas, en procesos de incrustación de
circuitos integrados. Pruebas de LCD, LED, LD/PD,
Pruebas térmicas para caracterizar el
comportamiento - rendimiento térmico, disipación - absorción de energía en
circuitos integrados.
Accesorios, cables, conectores, puntas,
adaptadores, apantallamientos, anti-vibración, etc.
ProbeStation
Universidades y Laboratorios:
Microelectrónica, Nanoelectrónica, Microsistemas, Nanotecnología, Micro mecanizado, MEMS,
Ciencia de materiales, Fotónica, Física, Química, Ingeniería mecánica, Biotecnología.
Industrias:
Semiconductor & Electronica. LCD, LED, LD, PD, PCB, FPC,
IC Diseño, IC Test, IC Encapsulado.
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